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产品名称：Sigma 300 场发射扫描电子显微镜

产品型号：Sigma 300

产品品牌：Zeiss 蔡司

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Sigma 300 场发射扫描电子显微镜

 

用于高品质成像与分析的场发射扫描电子显微镜

用于清晰成像的灵活探测

  • 利用先进探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。
  • 利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。
  • 利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。

自动化加速工作流程

  • 4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。
  • 首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。
  • 接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。

分析型显微镜

  • 将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。
  • 在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。
  • 获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。

基于成熟的 Gemini 技术

  • Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响，并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得很好的效果。
  • Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率，通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。
  • Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。

用于清晰成像的灵活探测

  • 利用新的探测技术表征所有的样品。
  • 在高真空模式下利用创新的 ETSE 和 in-lens 探测器获取形貌和高分辨率的信息。
  • 在可变压力模式下利用可变压力二次电子和 C2D 探测器获取锐利的图像。
  • 利用 aSTEM 探测器生成高分率透射图像。
  • 利用 BSD 或者 YAG 探测器进行成份分析。